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RoHS檢測儀的分析原理：
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ，λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;k為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其技術原理及結構比波長色散型簡單，現市場上比較常見，其技術原理：
特征X射線 放射性同位素源或X射線發生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內層電子。當外層電子補充內層電子時，會放射該原子所固有能量的X射線-特征X射線。
元素含量與特征X射線強度的關系。
不同元素特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析;再根據特征X射線強度大小，可進行定量分析。
可用函數關系式表示為：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n號元素的待定系數，In(n=1,2,3…)表示第n號元素釋放的特征X射線強度。由此可知只要通過標定確定系數Kn之后便可進行物質中元素的定量分析了。
RoHS檢測儀優點
1.分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2.非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
3.X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著，波長變化用于化學位的測定。
4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
5.分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
RoHS檢測儀缺點
1.難于作分析，故定量分析需要標樣。
2.對輕元素的靈敏度要低一些。容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
RoHS檢測儀價格相對其他一些分析儀器較高，所以很多客戶選擇租賃RoHS檢測儀，如果您想了解RoHS檢測儀租賃的價格，咨詢!
